XRF 臺(tái)式分析儀在用于元素分析或痕量元素分析的X射線熒光光譜儀方面，斯派克獨(dú)樹一幟

XRF 臺(tái)式分析儀概述：

對(duì)于測(cè)定很多類型材料的化學(xué)成分，能量色散X射線熒光技術(shù)（ED-XRF）提供了相對(duì)簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確和經(jīng)濟(jì)的分析方法之一。它提供非破壞性的可靠分析，無需或僅需極少樣品制備工作，適合于固體、液體和粉末狀樣本。它可用于從鈉（11）到鈾（92）等多種元素，提供亞ppm（百萬分之一）水平的檢出限；它也能輕松地同時(shí)測(cè)量高達(dá)100%的含量。

斯派克為世界著名的能量色散X射線熒光光譜儀制造商。近年來，斯派克通過進(jìn)一步發(fā)展X射線熒光技術(shù)設(shè)定了新標(biāo)準(zhǔn)，為ED-XRF光譜儀開創(chuàng)了很多新的工作領(lǐng)域。

該公司提供全系列X射線熒光便攜式光譜儀，如小型 便攜式XRF、xSORT和SPECTROSCOUT，這是一種將實(shí)驗(yàn)室級(jí)分析搬到野外的 。斯派克也給市場(chǎng)帶來多種用于特殊元素分析任務(wù)的臺(tái)式ED-XRF光譜儀，用于痕量元素分析的多用途實(shí)驗(yàn)室光譜儀，以及多種在線解決方案——不管您的要求是什么，我們都能滿足。

SPECTRO MIDEX小焦點(diǎn)能量色散X射線熒光（ED-XRF）光譜儀，適用于貴金屬分析和合規(guī)分析。

• 市場(chǎng)gong認(rèn)的貴金屬元素分析權(quán)wei標(biāo)準(zhǔn)

• 涵蓋元素種類>30種，豐富的工廠校準(zhǔn)，提供針對(duì)痕量和主要成分檢測(cè)的最佳準(zhǔn)確度

• 測(cè)量時(shí)間縮短三分之一：選擇以傳統(tǒng)測(cè)量時(shí)間獲得*結(jié)果，或以*測(cè)試時(shí)間獲得傳統(tǒng)結(jié)果

 
元素分析的準(zhǔn)確性往往非常重要——尤其是在評(píng)估貴金屬時(shí)。對(duì)其他應(yīng)用來說，速度甚至更加重要：高樣品處理量的檢測(cè)中心要求快速且準(zhǔn)確的分析。此外，所有用戶都希望分析儀堅(jiān)固、方便和容易操作，配備實(shí)用軟件，結(jié)果可輕松傳送到實(shí)驗(yàn)室網(wǎng)絡(luò)。在處理貴金屬時(shí)，用戶當(dāng)然也很贊賞非破壞性取樣。

多年來，SPECTRO MIDEX在所有這些領(lǐng)域中均提供超可靠的頂級(jí)XRF性能。它是世界上很多分析實(shí)驗(yàn)室的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)?，F(xiàn)在的第五代SPECTRO MIDEX分析儀靈敏度比上一代產(chǎn)品增加了兩倍，精確度接近火試金法，同時(shí)速度和易用性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過后者。它已為貴金屬應(yīng)用而全面優(yōu)化。

緊湊的新型SPECTRO MIDEX分析儀集成ED-XRF探測(cè)器技術(shù)的最新發(fā)展，使用高計(jì)數(shù)率和高分辨率。這些智能的創(chuàng)新使其成為貴金屬測(cè)試領(lǐng)域現(xiàn)有最xian進(jìn)的中級(jí)實(shí)驗(yàn)室XRF臺(tái)式分析儀之一。因此客戶可以選擇顯著提高精度，即使對(duì)少量或痕量元素含量也如此；或者顯著加快測(cè)試速度，以滿足大量樣品處理量的需求。

附件

使用小樣本制備設(shè)備，可簡(jiǎn)化您的分析

X射線熒光分析的巨大優(yōu)勢(shì)之一是準(zhǔn)備樣品的工作量很小。通過使用實(shí)用、經(jīng)過測(cè)試和驗(yàn)證的樣本制備設(shè)備，您能將剩余的工作進(jìn)一步簡(jiǎn)化。

斯派克提供用于X射線熒光光譜儀的多種附件，包括制作玻璃熔珠的樣品熔融系統(tǒng)。樣本熔化可以避免因粒度、基體和樣本表面粗糙可能對(duì)分析結(jié)果產(chǎn)生影響。

手動(dòng)壓機(jī)和壓模用于將粉末狀樣品快速制成壓片。玻璃熔珠和壓片可在光譜儀中進(jìn)行分析，無需進(jìn)一步準(zhǔn)備。

對(duì)其他樣品，可能需要研磨機(jī)。斯派克提供一系列不同的磨機(jī)，包括球磨機(jī)、擺動(dòng)式磨機(jī)和離心式磨機(jī)。